CSPM3000系列扫描探针显微镜
主要性能

CSPM3000系列扫描探针显微镜工作模式简介 （ 点击进入）

• 集成原子力显微镜(AFM)、摩擦力显微镜(LFM) 和扫描隧道显微镜(STM)

• 原子力显微镜具有接触、轻敲、相移成像等多种工作模式

• 具有I-V曲线和力曲线等测量分析功能 

• 具有图形刻蚀模式和矢量扫描模式的纳米加工技术

• 样品尺寸增大至直径4.5cm、厚度2.5cm

• 操作简便，只需要更换探针架，即可切换于STM和AFM等模式

• 全数字控制的参数设置和采集

• 系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制

• 数字控制反馈回路

• 16-bit分辨的A/D和D/A，多路同步数据采集和实时显示

• 基于Windows 9X/ME/2000/XP的在线控制软件和后处理分析软件

• 计算机操作接口全程在线式帮助及智能提示

• 扫描图像BMP/TIFF全兼容文件格式，当前全部工作环境参数同步保存

• 本底及比例的实时调整

• 实时定点测试功能

• 可连续采集、存储和重现动态过程

• 方便的鼠标控制扫描区域平移、剪切功能，扫描角度连续可调

• 多种样品倾斜度实时校正功能

• 样品粒度和粗糙度自动分析

• 可附加第二显示器（选配）

• 可选用光学显微辅助系统：彩色CCD，68～476X连续变倍光学显微镜（选配）
  　

 标配/选配件：

	STM、AFM/LFM多模式探头     
	1  μm × 1  μm  Scanner
	STM、AFM/LFM探针架
	20 μm × 20 μm  Scanner
	在线控制/后处理软件
	50 μm × 50 μm  Scanner（选配）
	光学辅助显微系统（选配）
	70 μm × 70 μm  Scanner（选配）
	第二显示器，方便进行参数调整及图像观测（选配）
	100μm × 100μm  Scanner（选配）