CSPM5500系列掃描探針顯微鏡（原子力顯微鏡/掃描隧道顯微鏡）

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CSPM5500掃描探針顯微鏡工作模式簡介

液相掃描探針顯微鏡

納米加工

系統功能
	國際主流的研究級專業儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)
	解析度：	原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.1nm（以雲母晶體標定）
	解析度：	掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標定）
	高精度計量型儀器，採用NanoSensors提供的可溯源于國際計量權威機構Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)的標準樣品進行校準
	一鍵式快速全程全自動進樣，無需手動預調，行程大於30mm，可容納超大樣品
	兩級可讀數樣品調節機構，可對樣品進行精確的檢測區域定位
	一次掃描技術，圖像分辨高達4096×4096物理象素，微米級掃描即可得到納米級的實際資訊
	先進PID回饋演算法實現快速高精度作用力控制，確保系統在高速掃描中穩定成像，實際掃描速度提升一個數量級
	系統採用10M/100M快速乙太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0與電腦連接
	主控機箱前面板具有16×4液晶顯示幕，系統當前狀態即時顯示
	具備即時線上三維圖像顯示功能，便於用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品資訊

標準配置：
原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能
掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等
曲線測量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等

選配功能：
納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、向量掃描模式、DPN浸潤筆模式等；
磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡；
環境控制掃描探針顯微鏡；
液相掃描探針顯微鏡；
導電原子力顯微鏡；
掃描探針聲學顯微鏡；
掃描開爾文探針顯微鏡；
掃描電容顯微鏡；
壓電力顯微鏡

CSPM5500宣傳畫冊(PDF格式）

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