SPM Console 在线控制软件

• 兼容Windows Vista/XP/NT/2000/ME/9x全系列操作系统

• 兼容Intel/AMD全系列计算机

• 兼容AFM(接触模式/轻敲模式振幅和相位移成像/抬起模式)、LFM、 C-AFM、STM、MFM、EFM等

• AFM力/距离曲线(Force Curve)、振幅/距离曲线(Amplitude Curve) 悬臂共振特性曲线(Q Curve)/相位曲线(Phase Curve)测量分析

• STM I/V曲线、I/Z曲线测量分析

• STM表面电流密度测量分析

• 支持双向扫描(Trace-Retrace)，往返扫描

• 实时在线三维图像显示

• 系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制

• 全部工作环境参数同步保存和载入

• 扫描图像亮度、对比度调整后，自动整体刷新

• 多种样品倾斜度实时校正功能

• 软件控制样品向指定方向移动一步或多步，精度达每步100nm

• 方便的鼠标控制扫描区域平移、剪切功能

• 具有数据导出功能，用户可取得原始数据

• 支持双显示器操作界面，方便进行参数调整及图像观测

• 支持图形刻蚀和矢量扫描模式的纳米加工技术

• 具备超媒体用户界面的纳米操纵接口

用户可以通过TCP/IP网络，在本地计算机或远程计算机上运行本软件，实现对仪器的实时控制。